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聯訊eDH3101高溫高濕老化系統是一體化高溫高濕雙85老化系統，一個針對第三代半導體芯片可靠性測試的完整的雙溫高濕雙85 Turn-key解決方案。 聯訊儀器eDH3101主要適用于GaAs和GaN射頻器件和功率器件的高溫高濕試驗。該系統已經在激光器芯片行業和第三代半導體兩大行業通過大量認證，是一個可靠穩定的系統。

聯訊CT8201激光器芯片測試系統聯訊儀器 CT8201 激光器芯片測試系統是針對激光二極管LIV、光譜及近場/遠場參數測試需求開發的。

聯訊TO6201 TO高溫測試系統TO6201-LIV是聯訊儀器提供的測試TO LIV，光譜測試機臺，支持標準8x8老化夾具，主要功能和參數指標包括： ? 支持TO的LIV掃描相關參數計算. ? 支持中心波長和SMSR測試，是否跳模判斷（多電流點光譜測試法）

聯訊TO6200低溫測試系統聯訊儀器提供的測試設備需要支持如下TO 產品的LIV 與光譜測試，詳細功能包括： - 支持TO 的LIV 掃描相關參數計算和算法選擇 - 支持中心波長和SMSR 測試，是否跳模判斷（多電流點光譜測試法）. - 支持LIV 和光譜并行測試

聯訊BI4201-TO老化系統是聯訊儀器提供的測試TO 標準老化系統，主要功能和特點包括：。 - 雙溫區，每個溫區可以獨立老化不同產品 - 大容量，每個溫區支持1536 顆TO 的老化，共支持3072 顆TO 的老化 - 軟件切換引腳定義，針對目前行業內不同的引腳封裝通過軟件切換實現 - 兼容小電流VCSEL TO 的老化和大電流FP/DFB TO 的老化

ENJ2005-C半導體功率器件圖示系統是一款很具有代表性的新型半導體功率器件圖示系統，系統IV曲線自動生成，也可根據實際需求設置功能測試，直接讀取數顯結果。系統生成的曲線都使用ATE系統逐點建立，保證了數據的準確可靠。

EN-1230A分立器件動態參數測試系統是針對于半導體器件進行非破壞性瞬態測試。用于二極管、雙極性三極管、MOEFET、IGBT的動態參數測試。系 統的測試原理符合相應的國家標準、軍標、系統為獨立式單元，封閉式結構，具有升級擴展潛能。

容測EA-I16汽車電源故障模擬器EA-I16 線束微中斷模擬器(汽車電源故障模擬器)電源線信號線二合一設計，應用于汽車線束微中斷測試，輸出波形，最小支持1us中斷試驗。