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  • 是德2600-PCT-xB大功率半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng)
    是德2600-PCT-xB大功率半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng)

    是德2600-PCT-xB大功率半導(dǎo)體器件測(cè)試系統(tǒng),開(kāi)發(fā)和使用MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件,需要全面的器件級(jí)檢定,如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。 Keithley 高功率參數(shù)化波形記錄器系列的配置支持所有的設(shè)備類(lèi)型和測(cè)試參數(shù)。

    更新日期:2025-05-26型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:680
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  • Keysight是德科技B1500A半導(dǎo)體器件分析儀
    Keysight是德科技B1500A半導(dǎo)體器件分析儀

    Keysight是德科技B1500A半導(dǎo)體器件分析儀是精密電流-電壓分析儀系列的一款一體化分析儀,支持 IV、CV、脈沖/動(dòng)態(tài) IV 等功能,專(zhuān)為從基礎(chǔ)到應(yīng)用的表征而設(shè)計(jì)。它提供廣泛的測(cè)量功能,涵蓋器件、材料、半導(dǎo)體、有源/無(wú)源元件或幾乎任何其他類(lèi)型的電子設(shè)備的電氣特性和評(píng)估,具有測(cè)量可靠性和效率。

    更新日期:2025-05-08型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:848
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  • QTJ8600T功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)
    QTJ8600T功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)

    QTJ8600T功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)功率半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī) 實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程,滿(mǎn)足不同器件測(cè)試對(duì)測(cè)試機(jī)的要求。 本產(chǎn)品為IGBT、SiC等功率半導(dǎo)體器件提供全套功率測(cè)試解決方案,可高效實(shí)現(xiàn)從晶圓級(jí)到最終產(chǎn)品的ISO、DC、AC等全套測(cè)試,實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化測(cè)試過(guò)程,并配置豐富的測(cè)試接口和功能模塊選擇,滿(mǎn)足不同器件測(cè)試對(duì)測(cè)試機(jī)的要求。

    更新日期:2024-01-29型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:1866
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  • Powertester 1800A IGBT功率及熱阻測(cè)試系統(tǒng)
    Powertester 1800A IGBT功率及熱阻測(cè)試系統(tǒng)

    Powertester 1800A IGBT功率及熱阻測(cè)試系統(tǒng)既可以對(duì)包括IGBT 器件在內(nèi)的電力電子器件進(jìn)行功率循環(huán)測(cè)試即對(duì)被測(cè)電力電子器件施加應(yīng)力測(cè)試,還可以通過(guò)瞬態(tài)熱測(cè)試對(duì)包括IGBT 器件在內(nèi)的電力電子器件進(jìn)行熱特性測(cè)量。

    更新日期:2026-01-27型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:1781
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  • ENJ2005-C半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng)
    ENJ2005-C半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng)

    ENJ2005-C半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng)是一款很具有代表性的新型半導(dǎo)體功率器件圖示系統(tǒng),系統(tǒng)IV曲線(xiàn)自動(dòng)生成,也可根據(jù)實(shí)際需求設(shè)置功能測(cè)試,直接讀取數(shù)顯結(jié)果。系統(tǒng)生成的曲線(xiàn)都使用ATE系統(tǒng)逐點(diǎn)建立,保證了數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確可靠。

    更新日期:2025-09-25型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:2517
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  • ST2500EX高性能數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試機(jī)
    ST2500EX高性能數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試機(jī)

    ST2500EX高性能數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試機(jī),支持1024數(shù)字通道配置。該系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)采用Direct Docking連接方式,可以兼容J Type針卡,降低客戶(hù)轉(zhuǎn)平臺(tái)治具成本。ST2500EX還具有靈活的可擴(kuò)展性,可搭載無(wú)線(xiàn)綜測(cè)儀、RF測(cè)試模塊及各類(lèi)高性?xún)r(jià)比解決方案。

    更新日期:2025-09-25型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:1437
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  • ST2500E高密度數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試機(jī)
    ST2500E高密度數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試機(jī)

    ST2500E高密度數(shù)模混合信號(hào)測(cè)試機(jī)廣泛應(yīng)用于SoC/MCU、FLASH、EEPROM、CIS、 AIoT、LED Driver、FPGA、Sensor等半導(dǎo)體晶圓、器件測(cè)試和模塊系統(tǒng)級(jí)測(cè)試。

    更新日期:2025-09-25型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:1236
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  • ENJ2005-A半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)
    ENJ2005-A半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)

    ENJ2005-A半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)采用脈沖測(cè)試法,脈沖寬度為美軍標(biāo)規(guī)定的300uS。在PC窗口提示下輸 入被測(cè)器件的測(cè)試條件點(diǎn)擊即可完成測(cè)試任務(wù)。被測(cè)器件引腳接觸自動(dòng)判斷功能。系統(tǒng)采用帶有開(kāi)爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試工裝,自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電 纜長(zhǎng)度引起的壓降,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。

    更新日期:2025-09-25型號(hào):訪(fǎng)問(wèn)量:1376
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